美國能源部發布一項新的報告，這份報告中對固態照明產品的壽命和可靠性進行了檢測，并清楚地表明，現行標準不足以提供定義系統壽命的適用方法。

  LED器件失效一般分為二種：本質失效和從屬失效。本質失效指的是LED芯片引起的失效，又分為電漂移和離子熱擴散失效。從屬失效一般由封裝結構材料、工藝引起，即封裝結構和用的環氧、硅膠、導電膠、熒光粉、焊接、引線、工藝、溫度等因素引起的。

 在建立測試和評級LED元件及LED照明系統標準的道路上，固態照明行業已經走過了很長的路，雖然正如美國能源部指出的那樣，目前還沒有明確的方法來評級照明系統的預期壽命。現在，有改良過的方法來測試和反應光通維持率，但其他性能，包括電源壽命和系統級別顏色維護仍很難量化。

  美國能源部發布的題為“壽命和可靠性”的報告，試圖定義所有存在的標準和預測方法，存在的缺點從系統層面充分定義了固態照明產品的特點。存在的主要問題包括，現有的方法主要集中在被認為是唯一失效機理的光衰，沒有標準化的方法來評級固態照明系統中光源以外的組件。

 IES LM-80標準，提供了確切的白光LED組件的測試方法。LM-80還定義組件的顏色維護和色偏。IES TM-21標準增加了一種方法來預測壽命超過LM-80標準測試要求的6000小時。

 目前還沒有辦法從系統級層面來測試或預估顏色維護。美國能源部聲稱，色偏已經不再是一個問題，因為它更多的是不便，而不是一個安全問題，然而光輸出下降可能是一個安全問題。盡管如此，照明設計師會考慮將不可接受的色偏當作產品故障。

 IES LM-84標準將定義燈泡及燈具級別的光通量和顏色維持率測試方法。此外，TM-28將規定如何應用LM-84測試數據來反映燈泡壽命，且IES或許在晚些時候將燈具壽命反映方法也添加至TM-28。

 說明書中沒有提及的是使用混合有色LED的、或者遠程熒光粉的產品壽命及可靠性該如何反映。現有的標準如LM-80只定義了熒光轉換型白光LED的測試方法，但其他系統結構正在某些應用領域逐漸流行。

  LED壽命是指在規定工作條件下，光輸出功率或光通量衰減到初始值的70%的工作時間，同時色度變化保持在0.007內。LED平均壽命的意義是LED產品失效前的工作時間的平均值，用MTTF來表示，它是電子器件最常用的可靠性參數。

  影響外延芯片性能及質量的，主要是與外延層特別是P-n結部分的位錯和缺陷的數目和分布情況，金屬與半導體接觸層質量，以及外延層及芯片表面和周邊沾污引起離子數目及狀況有關。芯片在加熱加電條件下，會逐步引起位錯、缺陷、表面和周邊產生電漂移及離子熱擴散，使芯片失效，正是上面所說的本質失效。要提高外延芯片可靠性指標，從根本上要降低外延生長過程中產生的位錯和缺陷以及外延層表面和周邊的沾污，提高金屬與半導體接觸質量，從而提高工作壽命的時間。